氣相色譜常見問題簡答指南
許多氣相色譜實(shí)驗中碰到的問題通過日常維護(hù)一般都可以避免，例如，定期更換隔墊，保持進(jìn)樣器和檢測器的整潔以及維護(hù)良好會解決很多問題。本文列出了許多氣相色譜的常見故障以及解決的辦法或建議。當(dāng)你解決了一個故障后，請記錄下來，以幫助解決未來的問題，成為您實(shí)驗室日常維護(hù)工作中的一部分。當(dāng)然也可以咨詢我們更快速準(zhǔn)確的明確色譜問題。
一、基線問題
基線上各種異�？梢詺w為下述幾類：漂移，噪音，基線位置突然改變，毛刺，低頻率噪音。
基線向下漂移 |
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可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 新色譜柱剛安裝在儀器上，基線可能連續(xù)向下漂移幾分鐘，這是正�，F(xiàn)象 | 提高柱溫箱溫度至色譜柱最高連續(xù)使用溫度附近，如果新色譜柱在初次使用中，基線連續(xù)10min中沒有下降的趨勢，應(yīng)該立即冷卻色譜柱并檢查氣路有無泄露。 |
| 檢測器未達(dá)到平衡 | 延長檢測器平衡時間 |
| 檢測器或者GC系統(tǒng)中其他部分沉積污染物被高溫“烘烤”出對基線的干擾 | 清理系統(tǒng)中的污染物 |
基線向上漂移 |
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| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 色譜柱固定相被破壞 | 取決于被破壞的原因，可能是因為不潔凈的載氣和過高的使用溫度，更換新的色譜柱 |
| 載氣流速不穩(wěn)定 | 清洗或者更換氣路中的壓力和流量調(diào)節(jié)閥，調(diào)整載氣壓力 |
噪音
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 毛細(xì)管色譜柱末端插入FID、NPD或者FPD檢測器的火焰區(qū)過深 | 重新安裝色譜柱，確保色譜柱插入插入檢測器至正確的溫度 |
| 使用ECD或TCD檢測器時，氣體泄露可引發(fā)基線噪音 | 檢查、維修氣路 |
| 使用FID，NPD或者FPD檢測器時燃?xì)膺x擇不當(dāng)或者流速設(shè)置不當(dāng)，引起基線噪音 | 使用干燥潔凈的高等級燃?xì)�，調(diào)整燃?xì)饬魉?/span> |
| 進(jìn)樣口被污染 | 清潔進(jìn)樣口，更換進(jìn)樣隔墊，更換襯管中的玻璃纖維和硅烷化玻璃珠 |
毛細(xì)管色譜柱被污染 | 高溫烘焙色譜柱
切除色譜柱首端10cm
使用溶劑清洗色譜柱
更換色譜柱 |
| 檢測器發(fā)生故障 | 維修或者更換檢測器配件 |
| 檢測器電路發(fā)生故障 | 及時聯(lián)系生產(chǎn)商或者專業(yè)維修機(jī)構(gòu) |
Offset(基線位置突然改變)
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 電壓波動 | 觀察線路電壓與基線Offset之間的變化關(guān)系。建議安裝電源穩(wěn)壓器 |
| 電器接口處連接不好 | 檢查電路接口處，清理接口處的污染物和銹斑，重新將松動的接口擰緊 |
| 進(jìn)樣口被污染 | 清潔進(jìn)樣口，更換進(jìn)樣隔墊。更換襯管中的玻璃纖維和硅烷化玻璃珠 |
毛細(xì)管色譜柱被污染 | 高溫烘焙色譜柱
切除色譜柱首端10cm
使用溶劑清洗色譜柱
更換色譜柱 |
| 毛細(xì)管色譜柱末端被插入FID，NPD或者FPD檢測器的火焰過區(qū)過深 | 重新安裝色譜柱，確保色譜柱插入檢測器正確的深度 |
| 檢測器被污染 | 清理檢測器 |
毛刺
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 電磁干擾通過電源線或者儀器外殼形成對基線的影響 | 一般這種干擾很強(qiáng)有周期性，很多情況是來自附近其他的電子設(shè)備，關(guān)閉或移動這些設(shè)備，在必要的情況下增加穩(wěn)壓電源，可以消除電流變化引起的干擾 |
| 顆粒污染進(jìn)入檢測器 | 清潔檢測器，清楚顆粒雜質(zhì)來源。注意：潔凈的H2燃燒時，火焰無色，有機(jī)物污染時，H2燃燒的顏色為黃色 |
| 氣路密封松動，氣壓升高，氣體從松動處泄露，壓力開始下降到密封可以再次密封。如此壓力周期性變化，引起基線規(guī)律性毛刺出峰 | 擰緊松動的密封 |
| 檢測器內(nèi)部電路接口或輸出輸入信號，接口松動、積塵或者被腐蝕 | 檢查接口、清潔接口并擰緊松動部分，更換腐蝕嚴(yán)重的火焰檢測器部件 |
Wander(低頻率噪音)
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 例如溫度、電壓等環(huán)境條件的波動，會引起基線的wander | 找到環(huán)境因素的變化與基線wander間的關(guān)系，然后穩(wěn)定該因素 |
| 溫度控制偏移，檢查變化是否與基線位置變化相關(guān) | 測量檢測器的溫度。如正在使用TCD檢測器，檢查一遍檢測器 |
| 使用恒溫條件時的基線wander,那么載氣中可能含有雜質(zhì) | 更換載氣氣源或者氣體凈化器 |
| 進(jìn)樣口被污染 | 清潔進(jìn)樣口，更換進(jìn)樣隔墊。更換襯管中的玻璃纖維或硅烷化玻璃珠 |
| 色譜柱被污染 | 高溫烘焙色譜柱
切除色譜柱首端10cm
使用溶劑清洗色譜柱
更換色譜柱 |
| 氣體流速控制失靈 | 清洗或者更換氣體流速調(diào)節(jié)閥 |
二、峰型問題
峰型問題有下列幾種常見現(xiàn)象：
~所有組分峰變小 ~分離度減小 ~平頭峰 ~對樣品的檢測靈敏度下降 ~峰伸舌 ~峰分叉
~鬼峰 ~峰拖尾 ~峰高或者峰面積不重復(fù) ~溶劑峰被拉寬 ~負(fù)峰 ~柱性能快速下降
~保留時間漂移 ~無峰
所有組分峰變小
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
進(jìn)樣后樣品滲漏，例如隔墊失效引起滲漏或者載氣流泄漏。嚴(yán)重泄漏會產(chǎn)生很差的峰形 | 判斷滲漏點(diǎn)井且進(jìn)行維修，調(diào)節(jié)載氣流。 |
| 吹掃氣體流速過高或者進(jìn)樣分流比過大 | 調(diào)整氣體流速和分流比。 |
| 分析大分子量或者低揮發(fā)樣品時，樣品的氣化溫度或者柱溫低 | 提高樣品氣化溫度或者柱溫。使用升溫程序時特別要注意色譜柱標(biāo)示的最高使用溫度。 |
| NPD檢測器中銣鹽表面被二氧化硅覆蓋這層涂覆物-般來源于色譜柱中硅樹脂的流失，或者衍生過程中硅烷化試劑的殘留 | 更換銣鹽，盡量避免硅化物進(jìn)人檢測器中。銣鹽表面的硅化物熔球一般只有6個月的壽命。 |
| NPD檢測器的使用溫度過高、在沒有潔凈氣流下加熱或者儲存時受潮，都會造成銣鹽的流失，直接影響檢測器對樣品的分析 | 更換銣鹽;當(dāng)氣流受阻或者被切斷時
立即關(guān)閉NPD檢測器。避免過高的使用溫度。暫時停止使用NPD檢測器時，以在150°C的溫度下保持對檢測器的加熱狀態(tài)儀器長期停止使用時，使用干燥劑保存。 |
| 采用不分流進(jìn)樣模式時，分流閥截止時間過短或者色譜柱初始溫度過高都會阻礙樣品的聚集，而影響檢測的結(jié)果 | 增加進(jìn)樣過程中分流閥的截止時間
降低色譜柱的初始溫度或者使用低揮發(fā)性溶劑，使用初始柱溫低于溶劑的沸點(diǎn)。 |
| 檢測器與樣品不匹配 | 選擇對樣品有充分響應(yīng)的檢測器。 |
| 輸出信號幅度不足 | 檢測輸出信號水平。 |
| 樣品的揮發(fā) | 檢查樣品的濃度與穩(wěn)定性。 |
平頭峰
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 檢測器過載，形成饅頭峰，甚至平頭峰，檢測器輸出信號溢出 | 減少樣品進(jìn)樣量或者稀釋樣品
減少進(jìn)樣量或者對檢測器的輸出信號進(jìn)行衰減 |
峰伸舌
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
色譜柱過載 | 減少樣品進(jìn)樣體積（有時需要相應(yīng)的提高儀儀器的靈敏度），也可以選用大容量的色譜柱進(jìn)行分析，大內(nèi)徑或者厚膜柱有較大的樣品容量，但是分離能力可能會下降。 |
鬼峰-指在譜圖中出現(xiàn)的不明組分峰（例如空白實(shí)驗中的不明峰。）
| 可能的起因 | 建議采取的措施 |
以前分析的樣品在進(jìn)樣口及色譜柱中形成殘留，常在提高進(jìn)樣口和溫度和柱溫時出現(xiàn)鬼峰 | 提高停止使用前的色譜柱柱溫，并延長運(yùn)行時間，讓保留其上的樣品能被充分的洗脫下來。
如果鬼峰持續(xù)出現(xiàn)，清潔進(jìn)樣口。
在比目前更高的使用溫度條件下(不應(yīng)超出允許的最高連續(xù)使用溫度）烘培色譜柱。
切除10厘米毛細(xì)柱的首端，并/或?qū)⒅臃唇釉谙到y(tǒng)中（殘留不多時可以保持原有的連續(xù)方向）通入載氣進(jìn)行高溫清理。
使用溶劑清洗，或更換色譜柱 |
| 樣品進(jìn)樣過程中的反閃造成樣品附近的殘留，反閃是指當(dāng)樣品體積超過襯管體積，多余的部分從襯管中溢出的現(xiàn)象，溢出的蒸汽在隔墊、載氣進(jìn)口、進(jìn)樣口等溫度較低的區(qū)域冷凝濃縮形成殘留，在后續(xù)的進(jìn)樣過程中，殘留再次被氣化，形成鬼峰或者對樣品的干擾 | 反閃影響可通過以下方式減�。�
清洗隔墊。
減少進(jìn)樣量。
使用大體積的襯管。
選擇適宜的進(jìn)樣溫度。
使用氣體壓力脈沖程序。 |
| 進(jìn)樣隔墊老化，流失以及碎屑進(jìn)入襯管和色譜柱 | 清潔進(jìn)樣口，更換隔墊、襯管和玻璃纖維。 |
峰高、峰面積不重復(fù)
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
平行進(jìn)樣不重復(fù)，偏差大
| 加強(qiáng)手動進(jìn)樣練習(xí)，使用自動進(jìn)樣器。 |
| 其他峰形變化引起的峰錯位、峰干擾 | 結(jié)合“二、峰形問題”中的內(nèi)容進(jìn)行優(yōu)化。 |
| 來自基線的干擾 | 結(jié)合“一、基線問題”中的內(nèi)容進(jìn)行優(yōu)化。 |
| 儀器系統(tǒng)參數(shù)設(shè)定的改變 | 將參數(shù)設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)化、規(guī)范化。 |
負(fù)峰
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 檢測器與數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的信號連接極性相反，呈現(xiàn)幾乎全部負(fù)峰 | 將信號連接倒置。 |
| 如果樣品組分的導(dǎo)熱系統(tǒng)高于載氣的導(dǎo)熱系數(shù)，使用TCD檢測器時，出現(xiàn)負(fù)峰應(yīng)屬正�，F(xiàn)象 | 沒有解決方案。 |
| 選擇性檢測某些特殊元素的檢測器過載，如ECD，NPD，F(xiàn)PD等，能產(chǎn)生正峰和負(fù)峰 | 使分析的化合物或其它高濃度的化合物在不同時間到達(dá)檢測器。使用TCD檢測器和氦氣為載氣時氫氣能產(chǎn)生負(fù)峰。 |
| ECD檢測器在被污染后，可能在正峰的出現(xiàn)后跟隨一個負(fù)峰 | 清理或更換ECD檢測器 |
無峰
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 注射器損壞造成進(jìn)樣失敗 | 用新的或者無損的進(jìn)樣器。 |
| 進(jìn)樣后樣品在進(jìn)樣口處發(fā)生滲漏 | 清洗進(jìn)樣口，擰緊松動的部分。 |
| 載氣流速出現(xiàn)異常 | 重新調(diào)整載氣的流速． |
| 色譜柱連接在錯誤的檢測器上或者進(jìn)樣口上，甚至色譜柱發(fā)生斷裂 | 重新安裝色譜桂或者更換色譜柱 |
| 檢測器沒有工作，或者檢測器沒有與數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)連接 | 觀察檢測器是否正常工作 （例如判斷FID的火焰是否
點(diǎn)燃)；檢查檢測器與數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)之間的連接。 |
對樣品的檢測靈敏度下降
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
色譜柱、襯管被污染，造成對乙醇、胺類和羧酸等活性物質(zhì)的選擇性和靈敏度的下降 | 清洗襯管。
高溫烘培色譜柱。
使用溶劑清洗色譜柱。對樣品的選擇性下降嚴(yán)重時，更換色譜柱。 |
| 進(jìn)樣時的樣品滲漏使樣品中組分峰減小，對于易揮發(fā)的樣品，相應(yīng)造成的靈敏度下降尤其明顯 | 查找滲漏點(diǎn)。并按照儀器“操作維修手冊”進(jìn)行維修。 |
| 使用分流氣化進(jìn)樣模式時，色譜柱初始溫度過高，致使樣品氣化后擴(kuò)散加劇，對于低沸點(diǎn)樣品，可能引起分析靈敏度的下降 | 使用低于樣品溶劑沸點(diǎn)的初始柱溫。使用高沸點(diǎn)的溶劑。 |
| 進(jìn)樣口歧視-進(jìn)樣口溫度太低。較遲洗脫和低揮發(fā)性化合物有較低的響應(yīng) | 增加進(jìn)樣溫度。 |
峰分叉
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 進(jìn)樣過急、不平穩(wěn)，形成二次進(jìn)樣 | 加強(qiáng)手動進(jìn)樣練習(xí)，使用自動進(jìn)樣器。 |
| 色譜柱安裝失敗 | 重新安裝色譜柱。 |
| 溶劑不匹配-固定相極性與溶劑極性不匹配 | 改變?nèi)軇�，使用更大的分流比，安裝保留間隙管，或改變固定相。 |
| 錯誤的襯管，不能在同一地方氣化樣品 | 如果可能的話，使用中間有玻璃毛的襯管。 |
| 柱溫波動 | 修理儀器的溫度控制部分。 |
不分流進(jìn)樣或者柱頭進(jìn)樣時，樣品溶劑
的混合 | 使用相同的樣品溶劑。 |
| 不分流進(jìn)樣時，由于進(jìn)樣量大，進(jìn)樣時間長，希望利用“溶劑效應(yīng)”進(jìn)行譜帶濃縮。如果用的溶劑對固定相的濕潤性差，溶劑將在柱中形成幾米長、厚度不均的溶劑帶，破壞正常的譜帶深伸縮，樣品被分離后的譜峰會被拉寬分叉。 | 在毛細(xì)管色譜柱的前端連接5米左右的去活、末涂覆固定液的毛細(xì)柱管。 |
峰拖尾
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 襯管、色譜柱被污染，或者有活化中心點(diǎn) | 清洗、更換襯管。
不要使用含玻璃纖維的襯管。
使用溶劑沖洗色譜柱。 |
| 襯管、色譜柱安裝不當(dāng)，存在死體積 | 注射惰性樣品（如甲烷），如果出峰拖尾，表明色譜柱安裝不當(dāng)。重新安裝襯管和色譜柱。 |
色譜柱柱頭不平 | 用寶石頭筆或者陶瓷切片平滑地切開色譜柱保護(hù)層，然后在刻痕處折段柱體。用20x放大鏡仔細(xì)檢查切口，如果切口不平、有裂痕或有碎屑進(jìn)入柱中，重新切割。切割后的柱頭保持向下，安裝卡套和螺母，防止切割碎屑進(jìn)人色譜柱中。 |
| 固定相的極性與溶劑極性不匹配 | 選擇其他型號的固定相。一般非極性柱或不干凈的色譜柱分析極性樣品時，經(jīng)常發(fā)生峰拖尾 |
| 在樣品流經(jīng)的路線有冷阱 | 消除在樣品流經(jīng)的線路中的過低溫度區(qū)。 |
| 襯管或者色譜柱中堆積切割碎屑 | 清理更換襯管，切除柱頭10cm。 |
| 進(jìn)樣時間過長 | 縮短進(jìn)樣時間。 |
| 分流比過低 | 增加分流比，至少大于20/1。 |
| 迸樣量過高 | 減少進(jìn)樣體積或者稀釋樣品。 |
| 醇胺、伯胺、叔胺和羧酸類物質(zhì)的分析易產(chǎn)生拖尾 | 選擇更高極性指標(biāo)的色譜柱。
對樣品進(jìn)行衍生處理。 |
保留時間漂移
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 柱溫變化 | 檢查柱溫箱的溫度。 |
| 氣體流速變化 | 注射不保留，可被檢測的樣品（例如甲烷）測定載氣的線速度，調(diào)節(jié)載氣壓力。 |
| 進(jìn)樣口泄露 | 檢查進(jìn)樣口隔墊，如果損壞，立即更換。
判斷其他泄漏處，維修泄漏處。 |
| 溶劑變化 | 樣品與標(biāo)準(zhǔn)品使用同樣條件的溶劑。 |
色譜柱污染 | 高溫烘培色譜柱。
切除色譜柱柱頭10cm。
溶劑清洗色譜柱，或者更換新的色譜柱。 |
分離度下降
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 色譜柱固定相破壞 | 更換新的色譜柱。這種情況多為固定相的過度流失。 |
進(jìn)樣器問題 | 檢查泄漏，維修泄漏處。
檢查溫度的適應(yīng)性。
檢查分流比。
檢查吹掃時間。
檢查襯管中是否積污。
檢查襯管中的玻璃纖維。 |
| 樣品濃度過高 | 稀釋樣品。
減少進(jìn)樣量。
采用高分流比。 |
溶劑峰拉寬
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
| 色譜柱安裝失敗 | 重新安裝色譜柱。 |
| 樣品滲漏 | 判斷其滲漏點(diǎn)，維修滲漏點(diǎn)。 |
| 進(jìn)樣量高 | 減少進(jìn)樣量或稀釋樣品。 |
| 進(jìn)樣溫度過低 | 提高氣化溫度，保證進(jìn)樣后樣品瞬間氣化。高于色譜柱連續(xù)使用溫度的氣化溫度，不會破壞色譜柱的使用。 |
| 分流比過低 | 提高分流比。 |
| 柱溫過低 | 提高柱溫。使用更低沸點(diǎn)溶劑。 |
| 不分流進(jìn)樣時，初始柱溫過高 | 降低初始柱溫。使用高沸點(diǎn)的溶劑，使初始柱溫低于溶劑的沸點(diǎn)。 |
| 吹掃時間過長（不分流進(jìn)樣） | 定義短時間的吹掃程序。 |
柱效快速下降
| 可能引起的原因 | 建議采取的措施 |
色譜柱斷裂
| 重新安裝色譜柱。
注意：
防止損壞聚酰亞胺涂層。
避免使用在高于370℃的溫度下。
防止色譜柱的磨損擦傷（例如色譜柱安裝不當(dāng)，輕微的震蕩會使色譜柱與柱溫箱內(nèi)的銳邊接觸，擦傷保護(hù)層）
不要過分地彎曲或扭曲柱體。色譜柱的斷裂不一定在保護(hù)層被破壞后立刻發(fā)生的，但保護(hù)層的損傷卻常常是致命的。 |
| 色譜柱在過高的溫度下長期使用 | 更換色譜柱。降低使用溫度至安全的范圍內(nèi)。 |
| 有氧進(jìn)入色譜柱中，特別在升溫的過程中 | 使用純凈的載氣。
查找氣路中的泄露點(diǎn)，并及時維修。 |
| 無機(jī)酸、堿對色譜柱的化學(xué)損害 | 避免讓無機(jī)酸、堿進(jìn)入色譜柱中。 |
| 不揮發(fā)、難揮發(fā)物質(zhì)對色譜柱的污染 | 防止不揮發(fā)、難揮發(fā)的物質(zhì)進(jìn)入色譜柱中。
建議使用保護(hù)柱。 |
